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反射率测量仪消除背面反射光
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产品: 浏览次数:169反射率测量仪消除背面反射光 
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最后更新: 2024-07-02 11:05
 
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详细信息
  iR-2反射率测量仪
可精测量目前分光光度计无法测量的微小、超薄、弧面样品的光谱反射率,不会与样品背面的反射光产生干涉;是测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统;实现非破坏性测量最佳方案。符合BSENISO12132;GB10810.4;QBT2506标准。
iR-2反射率测量仪:
1消除背面反射光
采用特殊光学系统,消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理,可正确测定弧度镜片表面的反射率。
2可测定微小区域的反射率(消除曲面反射测试带来的误差)
用物镜对焦于样本表面的微小光斑(?60μm),可以测定镜片曲面及镀膜层是否均匀。
3测定时间短
由于使用了FlatFieldGrating(平面光栅)和线传感器的高速分光测光机构,可以进行快速、高重复性的测定。
4支持XY色度图、L*a*b*测定
可以依据分光测色法,通过分光反射率测定物体颜色;比较色差。更真实反映材料主观感受色彩。
5综合对比反射均匀度测量
提供6组数据对比,可在测试区域内任意取点测量,分析镜片各部分反射均匀性。
反射率测量仪如有需要欢迎访问以下网址与我们取得联系
http://www.l-optical.com/Products-37071561.html
https://www.chem17.com/st326664/product_37071561.html
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